產(chǎn)品中心
Product Center當(dāng)前位置:首頁產(chǎn)品中心氣象儀器類DP/X-4數(shù)字顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀/顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀//
數(shù)字顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀/顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀//
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產(chǎn)品分類數(shù)字顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀/顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀 型號(hào):DP/X-4
測(cè)溫方式 | 溫度傳感器 | 測(cè)量誤差 | 程量±1% |
作方式 | 溫度值LED | 式樣用量 | <1mg/次 |
數(shù)顯 | 顯微鏡 | MTS300 | |
手動(dòng)控制 | 放大倍數(shù) | 20x~40x | |
測(cè)量范圍 | 室溫~320℃ | 視場(chǎng)直徑 | 10mm~5mm |
度 | 0.1℃ | 作距離 | 105mm |
儀器配置 | 控制箱、加熱測(cè)溫臺(tái)、溫度傳感器、載玻片 | ||
MTS300兩檔體視顯微鏡、隔熱玻璃、散熱器、鑷子 |
2.
介電常數(shù)測(cè)試儀/介電常數(shù)檢測(cè)儀/介電常數(shù)測(cè)定儀 型號(hào):DPSTD-A
DPSTD-A介電常數(shù)測(cè)試儀
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提材料的性能提供依據(jù);該儀器廣泛應(yīng)用于大專院校、科研院所對(duì)無機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
介電常數(shù)測(cè)試儀主要標(biāo)
1.頻率范圍及刻度誤差
范圍:50KHz~50MHz共分七個(gè)波段,允許誤差:+2%
1.1:50~150KHz; 1.2:150~450KHz
1.3:450~1500KHz; 1.4:1.5~4.5MHz
1.5:4.5~12MHz; 1.6:12~25MHz
1.7:25~50MHz;
2.Q值測(cè)量范圍及誤差
范圍:5~500
誤差:1)當(dāng)頻率從5~25KHz
量程5~50 +5%, 量程15~150 +5%,量程50~500 +7%
2)當(dāng)頻率從25~50MHz,所有量程均為+10%
3)△Q范圍:-25 ~ 0 ~ +25。
3.電感測(cè)量范圍及誤差:范圍:0.1μH~100mH,誤差:+5%+0.01μH
4.試樣尺寸
圓片形:厚度2+0.5mm,直徑為Φ30~40mm(ε<12時(shí));
Φ25~35mm(ε=12~30時(shí))Φ15~20mm(ε>30時(shí))。
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