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當(dāng)前位置：首頁(yè)產(chǎn)品中心專(zhuān)用儀器儀表DP-RTS-9雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/雙電測(cè)四探針測(cè)定儀/雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀

雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/雙電測(cè)四探針測(cè)定儀/雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

采用了四探針雙電測(cè)組合(亦稱(chēng)雙位組合)測(cè)量新,將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不知道探針間距、

產(chǎn)品型號(hào)：DP-RTS-9
更新時(shí)間：2016-10-11
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
訪問(wèn)量：1419

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雙電測(cè)四探針測(cè)試儀/四探針測(cè)試儀/四探針檢測(cè)儀/雙電測(cè)四探針測(cè)定儀/雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀  型號(hào)：DP-RTS-9

采用了四探針雙電測(cè)組合（亦稱(chēng)雙位組合）測(cè)量新,將范德堡測(cè)量方法推廣應(yīng)用到直線四探針上,利用電流探針、電壓探針的變換，在計(jì)算機(jī)控制下行兩次電測(cè)量，能自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。因而每次測(cè)量不知道探針間距、樣品尺寸及探針在樣品表面上的位置。由于每次測(cè)量都是對(duì)幾何因素的影響行動(dòng)態(tài)的自動(dòng)修正，因此顯著降低了幾何因素影響，從而提了測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確度。所有這些，用目前大量使用的常規(guī)四探針測(cè)量方法所的儀器是無(wú)法實(shí)現(xiàn)的。

是個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序。測(cè)試程序在計(jì)算機(jī)與RTS-9型四探針測(cè)試儀連接的狀態(tài)下，通過(guò)計(jì)算機(jī)的并口實(shí)現(xiàn)通訊。
    測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀行測(cè)量并實(shí)時(shí)采集兩次組合模式下的測(cè)試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析，然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)行各種數(shù)據(jù)分析

 測(cè)量范圍

 電阻率：10-4～105 Ω.cm（可擴(kuò)展）；  
 方塊電阻：10-3～106 Ω/□（可擴(kuò)展）；
 電導(dǎo)率：10-5～104 s/cm；
 電阻：10-4～105 Ω；

可測(cè)晶片厚度

 ≤3mm

可測(cè)晶片直徑

 140mmX150mm（配S-2A型測(cè)試臺(tái)）；
 200mmX200mm（配S-2B型測(cè)試臺(tái)）；
 400mmX500mm（配S-2C型測(cè)試臺(tái)）；

恒流源

 電流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表

 量程及表示形式：000.00～199.99mV；　　　　
 分辨力：10μV；
 輸入阻抗：>1000MΩ；
 度：±0.1% ；
 顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示；性、量程自動(dòng)顯示；

四探針探頭基本標(biāo)

 間距：1±0.01mm；
 針間緣電阻：≥1000MΩ；
 機(jī)械游移率：≤0.3%；
 探針：碳化鎢或速鋼Ф0.5mm；
 探針壓力：5～16 牛頓（總力）；

四探針探頭應(yīng)用參數(shù)

 （見(jiàn)探頭附帶的合格證）

模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
（ 按JJG508-87行）

 0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±1字

整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差

（用硅標(biāo)樣片：0.01-180Ω.cm測(cè)試）≤±4%

整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度

 ≤4%

計(jì)算機(jī)通訊接口

 并口

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境

 溫度：23±2℃；
 相對(duì)濕度：≤65%；
 無(wú)頻干擾；
 無(wú)強(qiáng)光直射；

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測(cè)厚儀
 
 
 
商品名稱(chēng)：多用途干膜檢測(cè)儀/干膜檢測(cè)儀/干膜測(cè)試儀
商品型號(hào)：DP-PIG
 

多用途干膜檢測(cè)儀/干膜檢測(cè)儀/干膜測(cè)試儀  型號(hào)：DP-PIG

多用途干膜檢測(cè)儀/干膜檢測(cè)儀/干膜測(cè)試儀 說(shuō)明：   
     DP-PIG多用途干膜檢測(cè)儀（破壞性測(cè)厚儀）是根據(jù)GB/T13452．2方法4B（ISO．2808-4B法）GB/T9286（ISO．2409）GB/T9275（ISO．2815）標(biāo)準(zhǔn)的。它不僅適用于有機(jī)涂料漆膜厚度（亦多層膜總厚度，單層膜厚度及膜層數(shù)）、劃格法附著力、巴克霍爾茲壓痕硬度的測(cè)定，還可以用來(lái)研究針孔、坑洼、裂紋、汽泡、剝落、底材處理的質(zhì)量及膜層間的其它現(xiàn)象，并可以在不同的底材（鋼、非磁性金屬、塑料、木材等）上測(cè)量厚度，范圍從2μm到2000μm。
　　漆膜多用檢測(cè)儀可以在種儀器上成對(duì)有機(jī)涂料多種性能的試驗(yàn)及檢測(cè)，且試驗(yàn)方法簡(jiǎn)捷、直觀，測(cè)量分辯率（±0.001mm），是實(shí)驗(yàn)室和施現(xiàn)場(chǎng)理想的測(cè)試儀器。
   多用途干膜檢測(cè)儀/干膜檢測(cè)儀/干膜測(cè)試儀  參數(shù)：
　　本儀器集劃格附著力、漆膜厚度和巴克霍爾茲壓痕硬度三項(xiàng)能于體，適用于漆膜附著力、漆膜厚度和巴克霍爾茲壓痕實(shí)驗(yàn)。
破壞法測(cè)量多種底材上的涂層厚度，尤其適合塑料和硬質(zhì)木材上的涂層測(cè)厚。
測(cè)厚量程0－2000μm，度可達(dá)2μm。
　1號(hào)切刀：厚度范圍 20―2000μm　 每格20μm
　2號(hào)切刀：厚度范圍 10―1000μm　 每格10μm
　3號(hào)切刀：厚度范圍　2―200μm　　每格2μm
附著力刀頭可做劃格試驗(yàn)。
　劃格附著力多刃切割刀，間距分別為：1mm、2mm
硬度刀頭可行布氏壓痕硬度試驗(yàn)。
　巴克霍爾茲壓痕刀半徑：R15mm，有效負(fù)荷：500±5g
 
 
 

 

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