產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
DP-A橡膠硬度計/數(shù)顯橡膠硬度計
DP17392汽液兩相流實驗儀
DP/DH807A光磁共振系統(tǒng)DP/DH807A
DP-BCGY-1便攜式測儀/測儀
DP-DFYF-109ZS石油產(chǎn)品閃點測定儀/閃點測定儀/
DPJH-JHZL-II轉輪試驗儀
DP-DHF-8多通道電荷放大器DP-DHF-8
DPAg/S-1型銀硫離子電/亞歐德鵬銀硫離子電
DP-GJCX-1度井中三分量磁力儀 井中三分量磁力儀 三分量磁力儀/
DP-QZWT型彎曲試驗機
DP-SYWD-2COD快速測定儀 /COD檢測儀
DP-BD-Ⅱ-510A反應時測定儀DP-BD-Ⅱ-510A
DP-JMGZ-III面筋數(shù)測定儀/雙頭面筋測定儀/面筋洗滌儀
DP/GKC-V開關機械特性測試儀/開關機械特性檢測儀
DP-HR-CSB130電池供電聲波流量計
DP15528凝膠強度測定儀,凝膠時間強度測試儀
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心專用儀器儀表DP-SB120/2型四探針樣品測試平臺/樣品測試平臺
四探針樣品測試平臺/樣品測試平臺
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類四探針樣品測試平臺/樣品測試平臺 型號：DP-SB120/2型
DP-SB120/2型四探針樣品測試平臺是DP-SB120/1測試平臺的改型。其有底座、支架、旋動件、樣品平臺、四探針及接線板等組成。由于其整個結構及旋動方式都在原DP-SB120/1的基礎上作了很大的改，故在校的物理實驗及科學研究總為導體/半導體的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。
線圈平臺/亞歐德鵬線圈平臺 型號：DP-SB120
線圈平臺可用于校的物理教育實驗。
其中：DP-SB120線圈平臺及DP-SB120/1樣品平臺可分別對磁電阻薄膜的磁電阻及導體/半導體電阻率行測試及研究。
該實驗平臺由帶360o刻度的底盤，安裝在底盤內可旋轉360o的襯盤，安裝在底盤上的樣品平臺（低可調）以及安裝在樣品平臺上的四探針等組成DP-SB100/1樣品平臺。
DP-SB120線圈平臺主要增加了二個相型的亥姆霍茲磁場線圈，分別安置在樣品平臺的兩側，且固定在可旋轉360o的襯盤兩邊上，樣品平臺位于磁場的中心，在其通電0-60V/5A的情況下，可確保產(chǎn)生磁場0-150奧斯特。
該實驗平臺為被測樣品在磁場及非磁場情況下，對其的測試研究提供了方便。
四探針金屬/半導體電阻率測量儀 型號：DP-SB100A/20A
DP-SB100A/20A是DP-SB100A/20的升級版，其為用戶提供了使用DP-SB100A/20行四探針測試及實驗的配套軟件，可運行于PC機上，能兼容運行在Winxp和Win7系統(tǒng)中，用于自動獲取實驗臺的實驗數(shù)據(jù)，并根據(jù)條件生成曲線和報表，輔助實驗人員自動成實驗，直觀的分析數(shù)據(jù)，獲得實驗結論，保存實驗數(shù)據(jù)。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達10-6—106Ω。
該測量儀由DP-SB118/20型電壓電流源，DP-PZ158A型直流數(shù)字電壓表，DP-SB120/2四探針樣品測試平臺及1臺電腦（選購），并附有配套的軟件系統(tǒng)等組成。產(chǎn)品的硬件詳情可參見DP-SB100A/20及相應產(chǎn)品的介紹 。
該產(chǎn)品的軟件系統(tǒng)為用戶提供參數(shù)設置、實驗流程、實驗方式、數(shù)據(jù)分析、曲線報表，并在后臺數(shù)據(jù)庫中行長期保存，實驗人員可以查詢以前的何次實驗的結果、所有的曲線和報表都可提供打印能。
DP-SB118/20型直流電壓電流源 （帶RS232C接口，詳見該產(chǎn)品使用說明書）
l 直流電壓源：輸出電壓范圍 0~50V 分20mV、200mV、2V、20V、50V五檔，每檔輸出電壓可連續(xù)調節(jié)，zui分辨力為1μV，基本誤差為0.1%。
l 直流電流源：輸出電流范圍 0~200mA 分20μA、200μA、2mA、20mA、200mA五檔，每檔輸出電流可連續(xù)調節(jié)，zui分辨力為1nA，基本誤差為0.03%。
l 儀器后面板配有二個RS232C接口,，個為DP-PZ158A/RS232C接口連接至DP-PZ158A，另個為PC/RS232C接口連接至PC機上，可利用PC機上的“終端"獲得儀器的測量數(shù)據(jù)。
DP-PZ158A型數(shù)字電壓表（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
可測量0~1000V直流電壓 具有200mV、2V、20V、200V、1000V五檔量程，zui分辨力為0.1μV，基本誤差為0.003%。
DP-SB120/2四探針樣品平臺（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導體/半導體樣品的電阻和電阻率，提供了方便。
四探針導體/半導體電阻率測量儀 型號：DP-SB100A/3型
由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實際的需要，本儀器采用四探針法原理來實現(xiàn)對不同金屬、半導體、導電分子材料的電阻及電阻率的測量?？捎糜谛Ｎ锢斫逃龑嶒?，對導體/半導體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達10-5—106Ω。
DP-SB100A/3型四探針導體/半導體電阻率測量儀是由DP-SB118/1型電壓電流源以及DP-SB120/2四探針樣品平臺二臺儀器構成。
l DP-SB118型直流電壓電流源 （詳見該產(chǎn)品使用說明書）
直流電流源
a) 電流輸出范圍：1nA~200mA，輸出電壓不小于5V；
b) 量程：分五檔，20μA、200μA、2mA、20mA、200mA；
c) 電流輸出的基本誤差：0.03%RD±0.02%FS（20±2℃）；其中50~200mA為0.05%RD±0.02%FS。
直流電壓源
a) 電壓輸出范圍：5μV~50V，負載電流不小于10mA（20mV以上）；
b) 量程：分五檔，20mV、200mV、2V、20V、50V，每檔均有粗調和細調；
c) 電壓輸出的基本誤差：0.05%RD±0.02%FS（20±2℃）。
數(shù)字電壓表（4?LED）利用電壓源分“取樣"端可對被測電壓行測試
a) 測量量程 20mV，200mV，2V，20V，200V
b) zui分辨力 可達1μV
c) 基本誤差為 0.03%RD±0.02%FS （20±2oC）
l DP-SB120/2四探針樣品平臺（詳見該產(chǎn)品使用說明書）
為被測薄膜樣品，利用四探針測量方式測量導體/半導體樣品的電阻和電阻率，提供了方便。
注:產(chǎn)品詳細介紹資料和上面顯示產(chǎn)品圖片是相對應的
上一個：
返回列表
