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低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀

發(fā)布時間：2012/5/8點擊次數(shù)：1119

低阻抗分析儀/表面阻抗測試儀 型號:DP-MCP-T370

四探針方案-觸式度的各種材料的表面電阻率測量。
查找只需按下啟動按鈕，確認自動測量能，可自動保持當(dāng)前的測量值。
電池壽命可以采用鎳氫電池組可以方便地替換。
新增探頭校準模式。檢查探頭校準片（另售），以確認Roresuta AX測試值的準確性。
測量數(shù)據(jù)可以導(dǎo)出到USB存儲器。

 

 

規(guī)格
測量方法 四端四探針法
施加恒定電流的方法
測量范圍 10 -2?10 6 Ω
標準配置 四探針探頭（ASP）AC適配器 說明書 檢查確認書

 

選項
探頭選項
類型 適用被測試樣品 型號
ESP 對于異類樣本 MCP - TP08P
PSP 小樣本的薄膜 MCP - TP06P
QPP 對于小樣本 MCP - TPQPP
TFP 有關(guān)硅晶片或玻璃基板薄膜 MCP - TFP

 

 

校準塊 型號：MCP - TRF1

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